Loading data. Please wait
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số trang: 95
Ngày phát hành: 1996-10-00
Environmental testing. Part 1: General and guidance | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-1*CEI 60068-1 |
Ngày phát hành | 1988-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Environmental testing - Part 2: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-6*CEI 60068-2-6 |
Ngày phát hành | 1995-03-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ga and guidance: Acceleration, steady state | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-7*CEI 60068-2-7 |
Ngày phát hành | 1983-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ka: Salt mist | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11 |
Ngày phát hành | 1981-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Environmental testing. Part 2: Tests. Test M: Low air pressure | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13 |
Ngày phát hành | 1983-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test N: Change of temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures - Part 2: Tests - Test Q: Sealing | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17 |
Ngày phát hành | 1994-07-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Soldering | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20 |
Ngày phát hành | 1979-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-21*CEI 60068-2-21 |
Ngày phát hành | 1983-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-45*CEI 60068-2-45 |
Ngày phát hành | 1980-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Mounting of components, equipment and other articles for dynamic tests including shock (Ea), bump (Eb), vibration (Fc and Fd) and steady-state acceleration (Ga) and guidance | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-47*CEI 60068-2-47 |
Ngày phát hành | 1982-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 |
Ngày phát hành | 1982-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Fire hazard testing; part 2: test method; section 2: needle-flame test | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60695-2-2*CEI 60695-2-2 |
Ngày phát hành | 1991-04-00 |
Mục phân loại | 13.220.40. Tính dễ bắt lửa và dễ cháy của vật liệu và sản phẩm 29.020. Kỹ thuật điện nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60747-1*CEI 60747-1 |
Ngày phát hành | 1983-00-00 |
Mục phân loại | 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices. Integrated circuits.. Part 1 : General | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60748-1*CEI 60748-1 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1 | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 |
Ngày phát hành | 1991-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2 | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 |
Ngày phát hành | 1993-09-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-1*CEI 60749-1 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-2*CEI 60749-2 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-3*CEI 60749-3 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-4*CEI 60749-4 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-5*CEI 60749-5 |
Ngày phát hành | 2003-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-6*CEI 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-8*CEI 60749-8 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-9*CEI 60749-9 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-10*CEI 60749-10 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11*CEI 60749-11 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-12*CEI 60749-12 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-13*CEI 60749-13 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-14*CEI 60749-14 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-19*CEI 60749-19 |
Ngày phát hành | 2003-02-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-22*CEI 60749-22 |
Ngày phát hành | 2002-09-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-25*CEI 60749-25 |
Ngày phát hành | 2003-07-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-31*CEI 60749-31 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-32*CEI 60749-32 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-36*CEI 60749-36 |
Ngày phát hành | 2003-02-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2 | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 |
Ngày phát hành | 1993-09-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1 | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 |
Ngày phát hành | 1991-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods. First supplement | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60147-5A*CEI 60147-5A |
Ngày phát hành | 1981-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60147-5*CEI 60147-5 |
Ngày phát hành | 1977-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1996-10-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |