Loading data. Please wait

IEC 60749*CEI 60749

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Số trang: 95
Ngày phát hành: 1996-10-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749*CEI 60749
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Ngày phát hành
1996-10-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749 (2000-02), IDT * DIN EN 60749 (2001-09), IDT * DIN EN 60749 (2002-09), IDT * BS EN 60749 (1999-04-15), IDT * EN 60749 (1999-01), IDT * prEN 60749 (1998-08), IDT * C86-021, IDT * NF C96-022 (1999-12-01), IDT * SN EN 60749 (1999-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749 (2000-05-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1 (2001-11-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2 (2002-11-01), IDT * PN-EN 60749 (2003-11-15), IDT * SS-EN 60749 (1999-04-23), IDT * UNE-EN 60749 (2000-11-15), IDT * STN EN 60749 (2001-08-01), IDT * NEN-EN-IEC 60749:1999 en;fr (1999-02-01), IDT * NEN 10749:1997 en;fr (1997-04-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-1*CEI 60068-1 (1988)
Environmental testing. Part 1: General and guidance
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-1*CEI 60068-1
Ngày phát hành 1988-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-6*CEI 60068-2-6 (1995-03)
Environmental testing - Part 2: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-6*CEI 60068-2-6
Ngày phát hành 1995-03-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-7*CEI 60068-2-7 (1983)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ga and guidance: Acceleration, steady state
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-7*CEI 60068-2-7
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11 (1981)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ka: Salt mist
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11
Ngày phát hành 1981-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13 (1983)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test M: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14 (1984)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test N: Change of temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17 (1994-07)
Basic environmental testing procedures - Part 2: Tests - Test Q: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17
Ngày phát hành 1994-07-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20 (1979)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Soldering
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20
Ngày phát hành 1979-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-21*CEI 60068-2-21 (1983)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-21*CEI 60068-2-21
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-45*CEI 60068-2-45 (1980)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-45*CEI 60068-2-45
Ngày phát hành 1980-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-47*CEI 60068-2-47 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Mounting of components, equipment and other articles for dynamic tests including shock (Ea), bump (Eb), vibration (Fc and Fd) and steady-state acceleration (Ga) and guidance
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-47*CEI 60068-2-47
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60695-2-2*CEI 60695-2-2 (1991-04)
Fire hazard testing; part 2: test method; section 2: needle-flame test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60695-2-2*CEI 60695-2-2
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 13.220.40. Tính dễ bắt lửa và dễ cháy của vật liệu và sản phẩm
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-1*CEI 60747-1 (1983)
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-1*CEI 60747-1
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60748-1*CEI 60748-1 (1984)
Semiconductor devices. Integrated circuits.. Part 1 : General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60748-1*CEI 60748-1
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-3 (1985) * IEC 60653 (1979)
Thay thế cho
IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 (1991-11)
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Ngày phát hành 1991-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 (1993-09)
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2
Ngày phát hành 1993-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749*CEI 60749 (1984)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1394/FDIS (1996-03)
Thay thế bằng
IEC 60749-1*CEI 60749-1 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-1*CEI 60749-1
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-2*CEI 60749-2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-2*CEI 60749-2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-3*CEI 60749-3 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-3*CEI 60749-3
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-4*CEI 60749-4 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-4*CEI 60749-4
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-5*CEI 60749-5 (2003-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-5*CEI 60749-5
Ngày phát hành 2003-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-6*CEI 60749-6 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-6*CEI 60749-6
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-8*CEI 60749-8 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-8*CEI 60749-8
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-9*CEI 60749-9 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-9*CEI 60749-9
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-10*CEI 60749-10 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-10*CEI 60749-10
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-11*CEI 60749-11 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-11*CEI 60749-11
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-12*CEI 60749-12 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-12*CEI 60749-12
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-13*CEI 60749-13 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-13*CEI 60749-13
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-14*CEI 60749-14 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-14*CEI 60749-14
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-19*CEI 60749-19 (2003-02)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-19*CEI 60749-19
Ngày phát hành 2003-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-22*CEI 60749-22 (2002-09)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-22*CEI 60749-22
Ngày phát hành 2002-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-25*CEI 60749-25 (2003-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-25*CEI 60749-25
Ngày phát hành 2003-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-31*CEI 60749-31 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-31*CEI 60749-31
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-32*CEI 60749-32 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-32*CEI 60749-32
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-36*CEI 60749-36 (2003-02)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-36*CEI 60749-36
Ngày phát hành 2003-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7 (2002-04, t) * IEC 60749-15 (2003-02, t) * IEC 60749-20 (2002-09, t) * IEC 60749-21 (2004-03, t) * IEC 60749-24 (2004-03, t)
Lịch sử ban hành
IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 (1993-09)
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2
Ngày phát hành 1993-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 (1991-11)
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Ngày phát hành 1991-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60147-5A*CEI 60147-5A (1981)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods. First supplement
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60147-5A*CEI 60147-5A
Ngày phát hành 1981-00-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60147-5*CEI 60147-5 (1977)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60147-5*CEI 60147-5
Ngày phát hành 1977-00-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749*CEI 60749 (1984)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1394/FDIS (1996-03) * IEC/DIS 47(CO)1316 (1992-01) * IEC/DIS 47(CO)1314 (1991-10) * IEC/DIS 47(CO)1252 (1991-08)
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Density * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes
Số trang
95