Loading data. Please wait

IEC 60749-32*CEI 60749-32

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Số trang: 9
Ngày phát hành: 2002-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-32*CEI 60749-32
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Ngày phát hành
2002-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-32 (2003-12), IDT * DIN EN 60749-32 (2011-01), IDT * BS EN 60749-32+A1 (2003-07-07), IDT * EN 60749-32 (2003-06), IDT * NF C96-022-32 (2003-11-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-32 (2004-01-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-32 (2011-03-01), IDT * PN-EN 60749-32 (2004-06-15), IDT * PN-EN 60749-32 (2005-12-22), IDT * SS-EN 60749-32 (2003-12-15), IDT * UNE-EN 60749-32 (2004-03-18), IDT * STN EN 60749-32 (2004-01-01), IDT * CSN EN 60749-32 (2003-12-01), IDT * DS/EN 60749-32+Corr.1 (2004-03-15), IDT * NEN-EN-IEC 60749-32:2003 en;fr (2003-08-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60695-11-5*CEI 60695-11-5 (2004-12)
Fire hazard testing - Part 11-5: Test flames - Needle-flame test method - Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60695-11-5*CEI 60695-11-5
Ngày phát hành 2004-12-00
Mục phân loại 13.220.40. Tính dễ bắt lửa và dễ cháy của vật liệu và sản phẩm
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 47/1394/FDIS (1996-03) * IEC 60749 (1996-10, t) * IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t) * IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t) * IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-32*CEI 60749-32*IEC 47/1394/FDIS (1996-03)*IEC 60749 (1996-10, t)*IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t)*IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t)*IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t) * IEC 60749-32 (2002-08) * IEC 47/1394/FDIS (1996-03)
Từ khóa
Changes of temperature * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Inflammability * Integrated circuits * Mechanical testing * Plastics * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing * Visual inspection (testing)
Số trang
9