Loading data. Please wait
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods
Số trang: 37
Ngày phát hành: 1977-00-00
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 5: Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60147-5*CEI 60147-5 |
Ngày phát hành | 1977-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1996-10-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749*CEI 60749 |
Ngày phát hành | 1984-00-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |