Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1

Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1

Số trang: 33
Ngày phát hành: 1991-11-00

Liên hệ
Modifies and supplements the Contents and the Chapters I to IV.
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; amendment 1
Ngày phát hành
1991-11-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749 (1984)
Thay thế cho
Thay thế bằng
IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 1 (1991-11)
Từ khóa
Climatic tests * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Test methods
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
33

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN