Loading data. Please wait

IEC 60749-6*CEI 60749-6

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Số trang: 7
Ngày phát hành: 2002-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-6*CEI 60749-6
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Ngày phát hành
2002-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-6 (2003-04), IDT * ABNT NBR IEC 60749-6 (2011-01-05), IDT * BS EN 60749-6 (2002-09-10), IDT * EN 60749-6 (2002-08), IDT * NF C96-022-6 (2002-12-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-6 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-6 (2003-10-15), IDT * PN-EN 60749-6 (2004-08-23), IDT * SS-EN 60749-6 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-6 (2003-05-30), IDT * TS EN 60749-6 (2004-04-15), IDT * STN EN 60749-6 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-6 (2003-04-01), IDT * DS/EN 60749-6 (2003-01-08), IDT * JS 60749-6 (2008-01-31), IDT * NEN-EN-IEC 60749-6:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 47/1603/FDIS (2002-01) * IEC 60749 (1996-10, t) * IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t) * IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t) * IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t) * IEC/PAS 62205 (2000-11)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-6*CEI 60749-6 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-6*CEI 60749-6
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1603/FDIS (2002-01) * IEC/PAS 62205 (2000-11) * IEC 47/1553/CDV (2000-10)
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Storage * Temperature test * Testing * Bearings
Số trang
7