Loading data. Please wait
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số trang: 7
Ngày phát hành: 2002-04-00
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 |
Ngày phát hành | 1982-00-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-6*CEI 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |