Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-11*CEI 60749-11

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method

Số trang: 13
Ngày phát hành: 2002-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-11*CEI 60749-11
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Ngày phát hành
2002-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-11 (2003-04), IDT * ABNT NBR IEC 60749-11 (2011-12-05), IDT * BS EN 60749-11 (2002-09-24), IDT * EN 60749-11 (2002-08), IDT * NF C96-022-11 (2002-12-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-11 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-11 (2003-08-15), IDT * PN-EN 60749-11 (2004-08-27), IDT * SS-EN 60749-11 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-11 (2003-05-30), IDT * STN EN 60749-11 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-11 (2003-04-01), IDT * DS/EN 60749-11 (2003-01-08), IDT * NEN-EN-IEC 60749-11:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14 (1984)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test N: Change of temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-3*CEI 60749-3 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-3*CEI 60749-3
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 47/1535A/CDV (2000-07) * IEC 47/1605/FDIS (2002-01) * IEC 60749 (1996-10, t) * IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t) * IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t) * IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t) * IEC/PAS 62185 (2000-08)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-11*CEI 60749-11*IEC 47/1535A/CDV (2000-07)*IEC 47/1605/FDIS (2002-01)*IEC 60749 (1996-10, t)*IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t)*IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t)*IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t)*IEC/PAS 62185 (2000-08) * IEC 60749-11 (2002-04) * IEC 47/1605/FDIS (2002-01) * IEC/PAS 62185 (2000-08) * IEC 47/1535A/CDV (2000-07) * IEC 47/1535/CDV (2000-07)
Từ khóa
Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Destructive testing * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
13

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN