Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-13*CEI 60749-13

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere

Số trang: 9
Ngày phát hành: 2002-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-13*CEI 60749-13
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Ngày phát hành
2002-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-13 (2003-04), IDT * BS EN 60749-13 (2002-08-28), IDT * EN 60749-13 (2002-08), IDT * NF C96-022-13 (2002-12-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-13 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-13 (2003-08-15), IDT * PN-EN 60749-13 (2004-08-27), IDT * SS-EN 60749-13 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-13 (2003-05-30), IDT * STN EN 60749-13 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-13 (2003-04-01), IDT * DS/EN 60749-13 (2003-01-08), IDT * NEN-EN-IEC 60749-13:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11 (1981)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ka: Salt mist
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11
Ngày phát hành 1981-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1615/CDV (2002-03)
Thay thế cho
IEC 47/1537A/CDV (2000-07) * IEC 47/1599/FDIS (2002-01) * IEC 60749 (1996-10, t) * IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t) * IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t) * IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t) * IEC/PAS 62183 (2000-08)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-13*CEI 60749-13*IEC 47/1537A/CDV (2000-07)*IEC 47/1599/FDIS (2002-01)*IEC 60749 (1996-10, t)*IEC 60749 AMD 1 (2000-07, t)*IEC 60749 AMD 2 (2001-10, t)*IEC 60749 Edition 2.2 (2002-04, t)*IEC/PAS 62183 (2000-08) * IEC 60749-13 (2002-04) * IEC 47/1599/FDIS (2002-01) * IEC/PAS 62183 (2000-08) * IEC 47/1537A/CDV (2000-07) * IEC 47/1537/CDV (2000-07)
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Destructive testing * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Salt mist * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
9

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN