Loading data. Please wait

IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Số trang: 151
Ngày phát hành: 2002-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Ngày phát hành
2002-04-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-1*CEI 60068-1 (1988)
Environmental testing. Part 1: General and guidance
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-1*CEI 60068-1
Ngày phát hành 1988-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-6*CEI 60068-2-6 (1995-03)
Environmental testing - Part 2: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-6*CEI 60068-2-6
Ngày phát hành 1995-03-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-7*CEI 60068-2-7 (1983)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ga and guidance: Acceleration, steady state
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-7*CEI 60068-2-7
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11 (1981)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test Ka: Salt mist
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-11*CEI 60068-2-11
Ngày phát hành 1981-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13 (1983)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test M: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14 (1984)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test N: Change of temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-14*CEI 60068-2-14
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17 (1994-07)
Basic environmental testing procedures - Part 2: Tests - Test Q: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17
Ngày phát hành 1994-07-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20 (1979)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test T: Soldering
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20
Ngày phát hành 1979-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-21*CEI 60068-2-21 (1983)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Test U: Robustness of terminations and integral mounting devices
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-21*CEI 60068-2-21
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-45*CEI 60068-2-45 (1980)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test XA and guidance: Immersion in cleaning solvents
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-45*CEI 60068-2-45
Ngày phát hành 1980-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-47*CEI 60068-2-47 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Mounting of components, equipment and other articles for dynamic tests including shock (Ea), bump (Eb), vibration (Fc and Fd) and steady-state acceleration (Ga) and guidance
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-47*CEI 60068-2-47
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60695-2-2*CEI 60695-2-2 (1991-04)
Fire hazard testing; part 2: test method; section 2: needle-flame test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60695-2-2*CEI 60695-2-2
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 13.220.40. Tính dễ bắt lửa và dễ cháy của vật liệu và sản phẩm
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-3 (1985) * IEC 60653 (1979) * IEC 60747-1 (1983) * IEC 60748-1 (1984)
Thay thế cho
Thay thế bằng
IEC 60749-1*CEI 60749-1 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-1*CEI 60749-1
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-2*CEI 60749-2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-2*CEI 60749-2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-3*CEI 60749-3 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-3*CEI 60749-3
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-4*CEI 60749-4 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-4*CEI 60749-4
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-5*CEI 60749-5 (2003-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-5*CEI 60749-5
Ngày phát hành 2003-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-6*CEI 60749-6 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-6*CEI 60749-6
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-8*CEI 60749-8 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-8*CEI 60749-8
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-9*CEI 60749-9 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-9*CEI 60749-9
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-10*CEI 60749-10 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-10*CEI 60749-10
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-11*CEI 60749-11 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-11*CEI 60749-11
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-12*CEI 60749-12 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-12*CEI 60749-12
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-13*CEI 60749-13 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-13*CEI 60749-13
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-14*CEI 60749-14 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-14*CEI 60749-14
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-19*CEI 60749-19 (2003-02)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-19*CEI 60749-19
Ngày phát hành 2003-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-22*CEI 60749-22 (2002-09)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-22*CEI 60749-22
Ngày phát hành 2002-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-25*CEI 60749-25 (2003-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-25*CEI 60749-25
Ngày phát hành 2003-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-31*CEI 60749-31 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-31*CEI 60749-31
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-32*CEI 60749-32 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-32*CEI 60749-32
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-36*CEI 60749-36 (2003-02)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-36*CEI 60749-36
Ngày phát hành 2003-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7 (2002-04, t) * IEC 60749-15 (2003-02, t) * IEC 60749-20 (2002-09, t) * IEC 60749-21 (2004-03, t) * IEC 60749-24 (2004-03, t)
Lịch sử ban hành
IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Số trang
151