Loading data. Please wait
Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide
Số trang: 18
Ngày phát hành: 2007-04-00
Surface mounting technology - Part 2 : transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide | |
Số hiệu tiêu chuẩn | NF C90-710-2*NF EN 61760-2 |
Ngày phát hành | 2014-05-30 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Packaging of components for automatic handling - Part 3: Packaging of surface mount components on continuous tapes | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60286-3*CEI 60286-3 |
Ngày phát hành | 1997-12-00 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung 55.060. Ống. Cuộn |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Packaging of components for automatic handling - Part 4: Stick magazines for electronic components encapsulated in packages of form E and G | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60286-4*CEI 60286-4 |
Ngày phát hành | 1997-12-00 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung 55.060. Ống. Cuộn |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Classification of environmental conditions - Part 3: Classification of groups of environmental parameters and their severities - Section 1: Storage | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60721-3-1*CEI 60721-3-1 |
Ngày phát hành | 1997-02-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Classification of environmental conditions - Part 3: Classification of groups of environmental parameters and their severities - Section 2: Transportation | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60721-3-2*CEI 60721-3-2 |
Ngày phát hành | 1997-03-00 |
Mục phân loại | 19.040. Thử môi trường |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-1*CEI 60749-1 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-1 Corrigendum 1*CEI 60749-1 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-2*CEI 60749-2 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-2 Corrigendum 1*CEI 60749-2 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-3*CEI 60749-3 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-3 Corrigendum 1*CEI 60749-3 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-4*CEI 60749-4 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-4 Corrigendum 1*CEI 60749-4 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-5*CEI 60749-5 |
Ngày phát hành | 2003-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-6*CEI 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-6 Corrigendum 1*CEI 60749-6 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-7 Corrigendum 1*CEI 60749-7 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-8*CEI 60749-8 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-8 Corrigendum 1*CEI 60749-8 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-8 Corrigendum 2*CEI 60749-8 Corrigendum 2 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-9*CEI 60749-9 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-9 Corrigendum 1*CEI 60749-9 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-10*CEI 60749-10 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-10 Corrigendum 1*CEI 60749-10 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11*CEI 60749-11 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11 Corrigendum 1*CEI 60749-11 Corrigendum 1 |
Ngày phát hành | 2003-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11 Corrigendum 2*CEI 60749-11 Corrigendum 2 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-12*CEI 60749-12 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 61760-2*CEI 61760-2 |
Ngày phát hành | 1998-02-00 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 61760-2*CEI 61760-2 |
Ngày phát hành | 2007-04-00 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Surface mounting technology - Part 2: Transportation and storage conditions of surface mounting devices (SMD) - Application guide | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 61760-2*CEI 61760-2 |
Ngày phát hành | 1998-02-00 |
Mục phân loại | 31.020. Thành phần điện tử nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |