Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

IEC 60749-4 Corrigendum 1*CEI 60749-4 Corrigendum 1

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-08-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

IEC 60749-4 Corrigendum 1*CEI 60749-4 Corrigendum 1

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Ngày phát hành

2003-08-00

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

CSN EN 60749-4 (2003-04-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60749-4 (2002-04)

Thay thế cho

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

IEC 60749-4 Corrigendum 1*CEI 60749-4 Corrigendum 1 (2003-08)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Damp-heat tests * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Stress tests * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60749-4 Corrigendum 1*CEI 60749-4 Corrigendum 1
Ngày phát hành	2003-08-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực