Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-8 Corrigendum 1*CEI 60749-8 Corrigendum 1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-04-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

IEC 60749-8 Corrigendum 1*CEI 60749-8 Corrigendum 1

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing

Ngày phát hành

2003-04-00

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN EN 60749-8 (2003-12), IDT * NF C96-022-8 (2003-11-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-8 (2004-01-01), IDT * PN-EN 60749-8 (2004-06-15), IDT * PN-EN 60749-8 (2005-08-31), IDT * UNE-EN 60749-8 (2004-05-28), IDT * STN EN 60749-8 (2004-01-01), IDT * CSN EN 60749-8 (2003-12-01), IDT * NEN-EN-IEC 60749-8:2003 en;fr (2003-08-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60749-8*CEI 60749-8 (2002-08)

Thay thế cho

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

IEC 60749-8 Corrigendum 1*CEI 60749-8 Corrigendum 1 (2003-04)

Từ khóa

Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Seals * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density * Gaskets

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60749-8*CEI 60749-8
Ngày phát hành	2002-08-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực