Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-2 Corrigendum 1*CEI 60749-2 Corrigendum 1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-2 Corrigendum 1*CEI 60749-2 Corrigendum 1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Ngày phát hành
2003-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
CSN EN 60749-2 (2003-04-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749-2*CEI 60749-2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-2*CEI 60749-2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-2 Corrigendum 1*CEI 60749-2 Corrigendum 1 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-2 Corrigendum 1*CEI 60749-2 Corrigendum 1
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN