Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-6 Corrigendum 1*CEI 60749-6 Corrigendum 1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-6 Corrigendum 1*CEI 60749-6 Corrigendum 1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Ngày phát hành
2003-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
CSN EN 60749-6 (2003-04-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749-6 (2002-04)
Thay thế cho
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-6 Corrigendum 1*CEI 60749-6 Corrigendum 1 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-6 Corrigendum 1*CEI 60749-6 Corrigendum 1
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Storage * Temperature test * Testing * Bearings
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN