Loading data. Please wait
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Số trang:
Ngày phát hành: 2003-08-00
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11*CEI 60749-11 |
Ngày phát hành | 2002-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 60749-11 Corrigendum 2*CEI 60749-11 Corrigendum 2 |
Ngày phát hành | 2003-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |