Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1

Số trang: 21
Ngày phát hành: 2000-07-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1
Ngày phát hành
2000-07-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022/A1*NF EN 60749/A1 (2002-02-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022/A1*NF EN 60749/A1
Ngày phát hành 2002-02-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749 (2001-09), IDT * DIN EN 60749 (2002-09), IDT * DIN EN 60749-8 (2003-12), MOD * DIN EN 60749-20 (2003-12), MOD * DIN EN 60749-22 (2003-12), MOD * DIN EN 60749-31 (2003-12), MOD * DIN EN 60749-32 (2003-12), MOD * BS EN 60749 (1999-04-15), NEQ * EN 60749/A1 (2000-11), IDT * SN EN 60749/A1 (2000-11), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1 (2001-11-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2 (2002-11-01), IDT * PN-EN 60749 (2003-11-15), IDT * SS-EN 60749 A 1 (2001-06-29), IDT * UNE-EN 60749/A1 (2001-10-23), IDT * NEN-EN-IEC 60749:1999/A1:2001-01 en;fr (2001-01-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 47/1477/FDIS (2000-02)
Thay thế bằng
IEC 60749-1*CEI 60749-1 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-1*CEI 60749-1
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-2*CEI 60749-2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-2*CEI 60749-2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-4*CEI 60749-4 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-4*CEI 60749-4
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-5*CEI 60749-5 (2003-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-5*CEI 60749-5
Ngày phát hành 2003-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-6*CEI 60749-6 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-6*CEI 60749-6
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-8*CEI 60749-8 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-8*CEI 60749-8
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-9*CEI 60749-9 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-9*CEI 60749-9
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-10*CEI 60749-10 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-10*CEI 60749-10
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-11*CEI 60749-11 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-11*CEI 60749-11
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-12*CEI 60749-12 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-12*CEI 60749-12
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-13*CEI 60749-13 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-13*CEI 60749-13
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-14*CEI 60749-14 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-14*CEI 60749-14
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-19*CEI 60749-19 (2003-02)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength test
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-19*CEI 60749-19
Ngày phát hành 2003-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-22*CEI 60749-22 (2002-09)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-22*CEI 60749-22
Ngày phát hành 2002-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-25*CEI 60749-25 (2003-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-25*CEI 60749-25
Ngày phát hành 2003-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-31*CEI 60749-31 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-31*CEI 60749-31
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-32*CEI 60749-32 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-32*CEI 60749-32
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7 (2002-04, t) * IEC 60749-15 (2003-02, t) * IEC 60749-20 (2002-09, t) * IEC 60749-21 (2004-03, t) * IEC 60749-24 (2004-03, t)
Lịch sử ban hành
IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 (2000-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1477/FDIS (2000-02) * IEC 47/1428/CDV (1998-07)
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Density * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
21

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN