Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

NF C96-022/A2*NF EN 60749/A2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Số trang: 35
Ngày phát hành: 2002-06-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022/A2*NF EN 60749/A2
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Ngày phát hành
2002-06-01
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749/A2:2001,IDT * CEI 60749/A2:2001,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
NF C96-022-10*NF EN 60749-10 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : mechanical shock
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-10*NF EN 60749-10
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-11*NF EN 60749-11 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-11*NF EN 60749-11
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-12*NF EN 60749-12 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12 : vibration, variable frequency
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-12*NF EN 60749-12
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-13*NF EN 60749-13 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-13*NF EN 60749-13
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-2*NF EN 60749-2 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-2*NF EN 60749-2
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-4*NF EN 60749-4 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 : damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-4*NF EN 60749-4
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-6*NF EN 60749-6 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6 : storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-6*NF EN 60749-6
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-7*NF EN 60749-7 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-7*NF EN 60749-7
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-9*NF EN 60749-9 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9 : permamence of marking
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-9*NF EN 60749-9
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-3*NF EN 60749-3 (2002-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-3*NF EN 60749-3
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-5*NF EN 60749-5 (2003-06-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-5*NF EN 60749-5
Ngày phát hành 2003-06-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-15*NF EN 60749-15 (2003-08-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15 : resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-15*NF EN 60749-15
Ngày phát hành 2003-08-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-19*NF EN 60749-19 (2003-08-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19 : die shear strength
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-19*NF EN 60749-19
Ngày phát hành 2003-08-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-36*NF EN 60749-36 (2003-08-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36 : acceleration steady state
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-36*NF EN 60749-36
Ngày phát hành 2003-08-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-1*NF EN 60749-1 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-1*NF EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-20*NF EN 60749-20 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-20*NF EN 60749-20
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-22*NF EN 60749-22 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22 : bond strength
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-22*NF EN 60749-22
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-31*NF EN 60749-31 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31 : flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-31*NF EN 60749-31
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-32*NF EN 60749-32 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32 : flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-32*NF EN 60749-32
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-8*NF EN 60749-8 (2003-11-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-8*NF EN 60749-8
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-25*NF EN 60749-25 (2003-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25 : temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-25*NF EN 60749-25
Ngày phát hành 2003-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* NF C96-022-21*NF EN 60749-21 (2005-12-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21 : solderability
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-21*NF EN 60749-21
Ngày phát hành 2005-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
NF C96-022-10*NF EN 60749-10 (2002-12-01)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-10*NF EN 60749-10
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại
Trạng thái Có hiệu lực
*NF C96-022/A2*NF EN 60749/A2
Từ khóa
Testing conditions * Electrical measurement * Fire tests * Macroscopic examination * Climatic tests * Electronic equipment and components * Environmental testing * Artificial weathering * Mechanical testing * Semiconductor devices * Flammability
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
35

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN