Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing

Số trang: 18
Ngày phát hành: 2003-11-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-8*NF EN 60749-8

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing

Ngày phát hành

2003-11-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-8:2003,IDT * CEI 60749-8:2002,IDT * CEI 60749-8/AC:2003,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17 (1994-07) * NF EN 60068-2-17:1995

Thay thế cho

NF EN 60749:199912 (C 96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C 96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C 96-022/A2)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-8*NF EN 60749-8*NF EN 60749:199912 (C 96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C 96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C 96-022/A2)

Từ khóa

Integrated circuits * Semiconductor devices * Leak tests * Error detection

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Basic environmental testing procedures - Part 2: Tests - Test Q: Sealing
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60068-2-17*CEI 60068-2-17
Ngày phát hành	1994-07-00
Mục phân loại	19.040. Thử môi trường
Trạng thái	Có hiệu lực