Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

NF C96-022-1*NF EN 60749-1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general

Số trang: 10
Ngày phát hành: 2003-11-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022-1*NF EN 60749-1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general
Ngày phát hành
2003-11-01
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749-1:2003,IDT * CEI 60749-1:2002,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
CEI 60050 * CEI 60747 * NF EN 60747 * CEI 60748
Thay thế cho
NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
NF C96-022-1*NF EN 60749-1*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Từ khóa
Electrical measurement * Basic (priority) * Climatic tests * Electronic equipment and components * Environmental testing * Artificial weathering * Mechanical testing * Test atmospheres * Semiconductor devices
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
10

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN