Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure

Số trang: 9
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-2*NF EN 60749-2

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure

Ngày phát hành

2002-12-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-2:2002,IDT * CEI 60749-2:2002,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

NF C20-713*NF EN 60068-2-13 (1999-08-01) * CEI 60068-2-13

Thay thế cho

NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-2*NF EN 60749-2*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Từ khóa

Measurement * Atmospheric pressure * Electronic equipment and components * Measuring * Semiconductor devices * Pressure testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Environmental testing. Part 2 : tests. Test M : low air pressure.
Số hiệu tiêu chuẩn	NF C20-713*NF EN 60068-2-13
Ngày phát hành	1999-08-01
Mục phân loại	19.040. Thử môi trường
Trạng thái	Có hiệu lực