Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

NF C96-022-6*NF EN 60749-6

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6 : storage at high temperature

Số trang: 7
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022-6*NF EN 60749-6
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6 : storage at high temperature
Ngày phát hành
2002-12-01
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749-6:2002,IDT * CEI 60749-6:2002,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
NF C20-748*NF EN 60068-2-48 (2000-02-01)
Environmental testing - Part 2 : tests - Guidance on the application of the test of IEC 60068 to simulate the effects of storage
Số hiệu tiêu chuẩn NF C20-748*NF EN 60068-2-48
Ngày phát hành 2000-02-01
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* CEI 60068-2-48
Thay thế cho
NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
NF C96-022-6*NF EN 60749-6*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Từ khóa
Defects * Storage * Storing * Stock control * Trials * Bearings * Electrical measurement * Electronic equipment and components * Testing * High-temperature testing * Storage time * Semiconductor devices
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
7

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN