Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

NF C96-022-10*NF EN 60749-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : mechanical shock

Số trang: 7
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022-10*NF EN 60749-10
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : mechanical shock
Ngày phát hành
2002-12-01
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749-10:2002,IDT * CEI 60749-10:2002,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
NF C20-727*NF EN 60068-2-27 (1994-01-01)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : tests. Test Ea and guidance : shock.
Số hiệu tiêu chuẩn NF C20-727*NF EN 60068-2-27
Ngày phát hành 1994-01-01
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
19.060. Thử cơ và thiết bị
Trạng thái Có hiệu lực
* CEI 60068-2-27
Thay thế cho
NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
NF C96-022-10*NF EN 60749-10*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Từ khóa
Testing conditions * Bump tests * Testing * Electronic equipment and components * Impact testing * Trials * Destructive testing * Semiconductor devices
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
7

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN