Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

NF C96-022-9*NF EN 60749-9

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9 : permamence of marking

Số trang: 8
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022-9*NF EN 60749-9
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9 : permamence of marking
Ngày phát hành
2002-12-01
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749-9:2002,IDT * CEI 60749-9:2002,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
CEI 60068-2-45 * NF EN 60068-2-45
Thay thế cho
NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
NF C96-022-9*NF EN 60749-9*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Từ khóa
Testing conditions * Trials * Solvent-resistance tests * Electronic equipment and components * Marking * Testing * Semiconductor devices * Verification
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
8

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN