Loading data. Please wait

NF C96-022-7*NF EN 60749-7

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Số trang: 10
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
NF C96-022-7*NF EN 60749-7
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Ngày phát hành
2002-12-01
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EN 60749-7:2002,IDT * CEI 60749-7:2002,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Thay thế bằng
NF EN 60749-7:201202 (C96-022-7)
Lịch sử ban hành
NF EN 60749-7:201202 (C96-022-7)*NF C96-022-7*NF EN 60749-7*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)
Từ khóa
Testing conditions * Measurement * Gas analysis * Electronic equipment and components * Measuring * Semiconductor devices * Humidity
Số trang
10