Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test

Số trang: 10
Ngày phát hành: 2003-06-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-5*NF EN 60749-5

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test

Ngày phát hành

2003-06-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-5:2003,IDT * CEI 60749-5:2003,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

CEI 60749-4 * NF EN 60749-4

Thay thế cho

NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-5*NF EN 60749-5*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Từ khóa

Reliability * Semiconductor devices * Temperature * Life (durability) * Polarization (wave physics) * Testing conditions * Humidity * Test duration

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN