Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

Số trang: 10
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-11*NF EN 60749-11

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11 : rapid change of temperature - Two-fluid-bath method

Ngày phát hành

2002-12-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-11:2002,IDT * CEI 60749-11:2002,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

NF C96-022-3*NF EN 60749-3 (2002-12-01) * NF C20-714*NF EN 60068-2-14 (2009-09-01) * CEI 60749-3 * CEI 60068-2-14

Thay thế cho

NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-11*NF EN 60749-11*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Từ khóa

Testing conditions * Testing * Trials * Semiconductor devices * Thermal-shock tests * Thermal-cycling tests * Electronic equipment and components

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn	NF C96-022-3*NF EN 60749-3
Ngày phát hành	2002-12-01
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Environmental testing - Part 2-14 : tests - Test N : change of temperature
Số hiệu tiêu chuẩn	NF C20-714*NF EN 60068-2-14
Ngày phát hành	2009-09-01
Mục phân loại	19.040. Thử môi trường
Trạng thái	Có hiệu lực