Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination

Số trang: 6
Ngày phát hành: 2002-12-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-3*NF EN 60749-3

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination

Ngày phát hành

2002-12-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-3:2002,IDT * CEI 60749-3:2002,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

NF EN 60749:199912 (C96-022) * NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) * NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-3*NF EN 60749-3*NF EN 60749:199912 (C96-022)*NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1)*NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2)

Từ khóa

Defects * Semiconductor devices * Macroscopic examination * Electronic equipment and components

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN