Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-7*CEI 60749-7

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Số trang: 15
Ngày phát hành: 2002-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-7*CEI 60749-7
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Ngày phát hành
2002-04-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022-7*NF EN 60749-7 (2002-12-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-7*NF EN 60749-7
Ngày phát hành 2002-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749-7 (2003-04), IDT * BS EN 60749-7 (2002-08-30), IDT * EN 60749-7 (2002-08), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-7 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-7 (2003-10-15), IDT * PN-EN 60749-7 (2004-08-23), IDT * SS-EN 60749-7 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-7 (2003-05-30), IDT * TS EN 60749-7 (2004-04-28), IDT * STN EN 60749-7 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-7 (2003-04-01), IDT * NEN-EN-IEC 60749-7:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 (2000-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 (2001-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2
Ngày phát hành 2001-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1530A/CDV (2000-07) * IEC 47/1597/FDIS (2002-01)
Thay thế bằng
IEC 60749-7*CEI 60749-7 (2011-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7*CEI 60749-7
Ngày phát hành 2011-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60749-7*CEI 60749-7 (2011-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7*CEI 60749-7
Ngày phát hành 2011-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7*CEI 60749-7 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7*CEI 60749-7
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1597/FDIS (2002-01) * IEC 47/1530A/CDV (2000-07) * IEC 47/1530/CDV (2000-07)
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture contents * Residual gas * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
15

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN