Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60749-7*CEI 60749-7

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Số trang: 21
Ngày phát hành: 2011-06-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-7*CEI 60749-7
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Ngày phát hành
2011-06-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-7 (2012-02), IDT * BS EN 60749-7 (2011-09-30), IDT * EN 60749-7 (2011-09), IDT * NF C96-022-7 (2012-02-01), IDT * MIL-STD-750 (2013-10-01), MOD * MIL-STD-883 (2014-07-03), MOD * OEVE/OENORM EN 60749-7 (2012-04-01), IDT * PN-EN 60749-7 (2012-03-19), IDT * SS-EN 60749-7 (2012-03-14), IDT * STN EN 60749-7 (2011-12-01), IDT * CSN EN 60749-7 ed. 2 (2012-02-01), IDT * DS/EN 60749-7 (2011-12-17), IDT * NEN-EN-IEC 60749-7:2011 en (2011-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
IEC 60749-7 Corrigendum 1*CEI 60749-7 Corrigendum 1 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7 Corrigendum 1*CEI 60749-7 Corrigendum 1
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7*CEI 60749-7 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7*CEI 60749-7
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/2087/FDIS (2011-03)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-7 Corrigendum 1*CEI 60749-7 Corrigendum 1 (2003-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7 Corrigendum 1*CEI 60749-7 Corrigendum 1
Ngày phát hành 2003-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7*CEI 60749-7 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-7*CEI 60749-7
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-7 (2011-06) * IEC 47/2087/FDIS (2011-03) * IEC 47/2021/CDV (2009-07) * IEC 47/1597/FDIS (2002-01) * IEC 47/1530A/CDV (2000-07) * IEC 47/1530/CDV (2000-07)
Từ khóa
Calibration * Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Examination (quality assurance) * Integrated circuits * Mass spectrometers * Mass spectrometry * Measurement * Measuring techniques * Mechanical testing * Moisture * Moisture contents * Residual gas * Residues * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
21

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN