Loading data. Please wait

IEC 60749-20*CEI 60749-20

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

Số trang: 49
Ngày phát hành: 2002-09-00

Liên hệ
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) - and provides a means of assessing the resistance to soldering heat of plastic-encapsulated surface mount devices.
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-20*CEI 60749-20
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Ngày phát hành
2002-09-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022-20*NF EN 60749-20 (2003-11-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20 : resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-20*NF EN 60749-20
Ngày phát hành 2003-11-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749-20 (2003-12), IDT * BS EN 60749-20 (2003-07-07), IDT * EN 60749-20 (2003-06), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-20 (2004-01-01), IDT * PN-EN 60749-20 (2004-06-15), IDT * PN-EN 60749-20 (2005-12-30), IDT * SS-EN 60749-20 (2003-11-17), IDT * UNE-EN 60749-20 (2004-06-11), IDT * STN EN 60749-20 (2004-01-01), IDT * CSN EN 60749-20 (2003-12-01), IDT * NEN-EN-IEC 60749-20:2003 en;fr (2003-08-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20 (2008-07)
Environmental testing - Part 2: Tests - Test T: Test methods for soldeability and resistance to soldering heat of devices with leads
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-20*CEI 60068-2-20
Ngày phát hành 2008-07-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-3*CEI 60749-3 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-3*CEI 60749-3
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-35*CEI 60749-35 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-35*CEI 60749-35
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 60749*CEI 60749 (1996-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749*CEI 60749
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1 (2000-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 1*CEI 60749 AMD 1
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2 (2001-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 AMD 2*CEI 60749 AMD 2
Ngày phát hành 2001-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2 (2002-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749 Edition 2.2*CEI 60749 Edition 2.2
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1574/FDIS (2001-06)
Thay thế bằng
IEC 60749-20*CEI 60749-20 (2008-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-20*CEI 60749-20
Ngày phát hành 2008-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60749-20*CEI 60749-20 (2008-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-20*CEI 60749-20
Ngày phát hành 2008-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-20*CEI 60749-20 (2002-09)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-20*CEI 60749-20
Ngày phát hành 2002-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1574/FDIS (2001-06) * IEC 47/1431/CDV (1999-04)
Từ khóa
Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture resistance * Plastics * Semiconductor devices * Semiconductors * SMD * Soldering temperature resistance * Surface mounting * Surface mounting devices * Testing * Thermal stability
Số trang
49