Loading data. Please wait

EN 60749/A2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A2 (IEC 60749:1996/A2:2001)

Số trang:
Ngày phát hành: 2001-12-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749/A2
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A2 (IEC 60749:1996/A2:2001)
Ngày phát hành
2001-12-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022/A2*NF EN 60749/A2 (2002-06-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022/A2*NF EN 60749/A2
Ngày phát hành 2002-06-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749 (2002-09), IDT * BS EN 60749 (1999-04-15), NEQ * C96-022/A2PR, IDT * IEC 60749 AMD 2 (2001-10), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2 (2002-11-01), IDT * PN-EN 60749 (2003-11-15), IDT * SS-EN 60749 A 2 (2002-04-18), IDT * UNE-EN 60749/A2 (2002-11-28), IDT * NEN-EN-IEC 60749:1999/A2:2002 en;fr (2002-02-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60749 (1999-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749
Ngày phát hành 1999-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
EN 60749/prA2 (2001-06)
Amendment 2 to IEC 60749: Update of chapter 2 subclause 2.3: "Resistance of plastic encapsulated SMD's to the combined effects of moisture and soldering heat" and chapter 3 clause 5 "Sealing"
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/prA2
Ngày phát hành 2001-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-2 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-2
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-3 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-3
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-4 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-4
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-6 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-6
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-9 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-9
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-10 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-10
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-11 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-11
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-12 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibrations, variable frequency (IEC 60749-12:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-12
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-13 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-13
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-7 (2002-08, t)
Lịch sử ban hành
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749/A2 (2001-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A2 (IEC 60749:1996/A2:2001)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/A2
Ngày phát hành 2001-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749/prA2 (2001-06)
Amendment 2 to IEC 60749: Update of chapter 2 subclause 2.3: "Resistance of plastic encapsulated SMD's to the combined effects of moisture and soldering heat" and chapter 3 clause 5 "Sealing"
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/prA2
Ngày phát hành 2001-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Density * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes
Số trang