Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

EN 60749-2

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-2
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
Ngày phát hành
2002-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-2 (2003-04), IDT * BS EN 60749-2 (2002-09-24), IDT * NF C96-022-2 (2002-12-01), IDT * IEC 60749-2 (2002-04), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-2 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-2 (2003-08-15), IDT * PN-EN 60749-2 (2004-08-26), IDT * SS-EN 60749-2 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-2 (2003-05-30), IDT * TS EN 60749-2 (2004-04-15), IDT * STN EN 60749-2 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-2 (2003-04-01), IDT * DS/EN 60749-2 (2003-01-08), IDT * NEN-EN-IEC 60749-2:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60068-2-13 (1999-04)
Environmental testing - Part 2: Tests - Test M: Low air pressure (IEC 60068-2-13:1983)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60068-2-13
Ngày phát hành 1999-04-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13 (1983)
Environmental testing. Part 2: Tests. Test M: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-13*CEI 60068-2-13
Ngày phát hành 1983-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
prEN 60749-2 (2002-01)
IEC 60749-2, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-2
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749 (1999-01, t) * EN 60749/A1 (2000-11, t) * EN 60749/A2 (2001-12, t)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EN 60749-2 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-2
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-2 (2002-01)
IEC 60749-2, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-2
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-2 (2000-07)
Low air pressure
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-2
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN