Loading data. Please wait
| IEC 60749-2, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure | |
| Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-2 |
| Ngày phát hành | 2002-01-00 |
| Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
| Trạng thái | Có hiệu lực |
| Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002) | |
| Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749-2 |
| Ngày phát hành | 2002-08-00 |
| Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
| Trạng thái | Có hiệu lực |
| IEC 60749-2, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure | |
| Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-2 |
| Ngày phát hành | 2002-01-00 |
| Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
| Trạng thái | Có hiệu lực |
| Low air pressure | |
| Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-2 |
| Ngày phát hành | 2000-07-00 |
| Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
| Trạng thái | Có hiệu lực |