Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

EN 60749-6

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-6
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Ngày phát hành
2002-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-6 (2003-04), IDT * BS EN 60749-6 (2002-09-10), IDT * NF C96-022-6 (2002-12-01), IDT * IEC 60749-6 (2002-04), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-6 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-6 (2003-10-15), IDT * PN-EN 60749-6 (2004-08-23), IDT * SS-EN 60749-6 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-6 (2003-05-30), IDT * TS EN 60749-6 (2004-04-15), IDT * STN EN 60749-6 (2003-02-01), IDT * CSN EN 60749-6 (2003-04-01), IDT * DS/EN 60749-6 (2003-01-08), IDT * NEN-EN-IEC 60749-6:2002 en;fr (2002-09-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60068-2-48 (1999-11)
Environmental testing - Part 2: Tests - Guidance on the application of the tests of IEC 60068 to simulate the effects of storage (IEC 60068-2-48:1982)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60068-2-48
Ngày phát hành 1999-11-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48 (1982)
Basic environmental testing procedures. Part 2 : Tests. Guidance on the application of the tests of IEC publication 60068 to simulate the effects of storage
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60068-2-48*CEI 60068-2-48
Ngày phát hành 1982-00-00
Mục phân loại 19.040. Thử môi trường
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
prEN 60749-6 (2002-01)
IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-6
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749 (1999-01, t) * EN 60749/A1 (2000-11, t) * EN 60749/A2 (2001-12, t)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EN 60749-6 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-6
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-6 (2002-01)
IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-6
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-6 (2000-10)
IEC 60749-6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-6
Ngày phát hành 2000-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Storage * Temperature test * Testing * Bearings
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN