IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

Tìm kiếm nâng cao

prEN 60749-6

IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-01-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-6

Tên tiêu chuẩn

IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Ngày phát hành

2002-01-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

IEC 47/1603/FDIS (2002-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

prEN 60749-6 (2000-10)

Thay thế bằng

EN 60749-6 (2002-08)

Lịch sử ban hành

EN 60749-6 (2002-08) * prEN 60749-6 (2002-01) * prEN 60749-6 (2000-10)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Storage * Testing * Bearings

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IEC 60749-6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-6
Ngày phát hành	2000-10-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-6
Ngày phát hành	2002-08-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-6
Ngày phát hành	2002-01-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực