Loading data. Please wait
IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-08-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
IEC 60749-6, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-6 |
Ngày phát hành | 2002-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
IEC 60749-6: Storage at high temperature | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-6 |
Ngày phát hành | 2000-10-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |