Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

EN 60749/A1

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A1 (IEC 60749:1996/A1:2000)

Số trang:
Ngày phát hành: 2000-11-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749/A1
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A1 (IEC 60749:1996/A1:2000)
Ngày phát hành
2000-11-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022/A1*NF EN 60749/A1 (2002-02-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022/A1*NF EN 60749/A1
Ngày phát hành 2002-02-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749 (2001-09), IDT * DIN EN 60749 (2002-09), IDT * BS EN 60749 (1999-04-15), NEQ * IEC 60749 AMD 1 (2000-07), IDT * SN EN 60749/A1 (2000-11), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1 (2001-11-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2 (2002-11-01), IDT * PN-EN 60749 (2003-11-15), IDT * PN-EN 60749/A1 (2002-08-15), IDT * SS-EN 60749 A 1 (2001-06-29), IDT * UNE-EN 60749/A1 (2001-10-23), IDT * NEN-EN-IEC 60749:1999/A1:2001-01 en;fr (2001-01-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60749 (1999-01)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749
Ngày phát hành 1999-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
EN 60749/prA1 (2000-02)
Amendment 1 to IEC 60749
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/prA1
Ngày phát hành 2000-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-2 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-2
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-3 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-3
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-4 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-4
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-6 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-6
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-9 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-9
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-10 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-10
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-11 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method (IEC 60749-11:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-11
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-12 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibrations, variable frequency (IEC 60749-12:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-12
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-13 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-13
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-7 (2002-08, t)
Lịch sử ban hành
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749/A1 (2000-11)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A1 (IEC 60749:1996/A1:2000)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/A1
Ngày phát hành 2000-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749/prA1 (2000-02)
Amendment 1 to IEC 60749
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749/prA1
Ngày phát hành 2000-02-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Density * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN