Loading data. Please wait
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749 |
Ngày phát hành | 1999-01-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A1 (IEC 60749:1996/A1:2000) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749/A1 |
Ngày phát hành | 2000-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749-1 |
Ngày phát hành | 2003-06-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods; Amendment A1 (IEC 60749:1996/A1:2000) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749/A1 |
Ngày phát hành | 2000-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Amendment 1 to IEC 60749 | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749/prA1 |
Ngày phát hành | 2000-02-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |