IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

prEN 60749-23

IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-11-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-23

Tên tiêu chuẩn

IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Ngày phát hành

2003-11-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

IEC 47/1735/FDIS (2003-11), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

prEN 60749-23 (2002-12)

Thay thế bằng

EN 60749-23 (2004-04)

Lịch sử ban hành

EN 60749-23 (2004-04) * prEN 60749-23 (2002-12) * prEN 60749-23 (2003-11)

Từ khóa

Bond strength * Climatic tests * Components * Definitions * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * High-temperature testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-23
Ngày phát hành	2002-12-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-23
Ngày phát hành	2004-04-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-23
Ngày phát hành	2003-11-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực