Loading data. Please wait
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số trang:
Ngày phát hành: 2002-12-00
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-23 |
Ngày phát hành | 2003-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004) | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EN 60749-23 |
Ngày phát hành | 2004-04-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-23 |
Ngày phát hành | 2002-12-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | |
Số hiệu tiêu chuẩn | prEN 60749-23 |
Ngày phát hành | 2003-11-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |