Loading data. Please wait

prEN 60749-23

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-12-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-23
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Ngày phát hành
2002-12-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
C96-022-23PR, IDT * IEC 47/1671/CDV (2002-12), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-23 (2003-03-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
prEN 60749-23 (2003-11)
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-23 (2004-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-23
Ngày phát hành 2004-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-23 (2002-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2002-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-23 (2003-11)
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Bond strength * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * High-temperature testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Số trang