Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

EN 60749-23

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)

Số trang:
Ngày phát hành: 2004-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-23
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
Ngày phát hành
2004-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-23 (2004-10), IDT * DIN EN 60749-23 (2011-07), IDT * BS EN 60749-23+A1 (2004-06-24), IDT * NF C96-022-23 (2004-07-01), IDT * IEC 60749-23 (2004-02), IDT * SN EN 60749-23 (2004), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-23 (2004-12-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-23 (2011-09-01), IDT * PN-EN 60749-23 (2005-03-15), IDT * PN-EN 60749-23 (2006-07-27), IDT * SS-EN 60749-23 (2004-06-28), IDT * UNE-EN 60749-23 (2005-03-16), IDT * TS EN 60749-23 (2008-04-30), IDT * STN EN 60749-23 (2004-10-01), IDT * CSN EN 60749-23 (2004-12-01), IDT * DS/EN 60749-23 (2004-06-14), IDT * NEN-EN-IEC 60749-23:2004 en;fr (2004-05-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60747 Reihe * EN 60749-34 (2004-04) * IEC 60747 Reihe * IEC 60749-34 (2004-03)
Thay thế cho
prEN 60749-23 (2003-11)
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EN 60749-23 (2004-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-23
Ngày phát hành 2004-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-23 (2002-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2002-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-23 (2003-11)
IEC 60749-23, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-23
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Bond strength * Climate * Climatic tests * Components * Defects * Definitions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * High-temperature testing * Integrated circuits * Life (durability) * Life test * Mechanical testing * Moisture test * Performance in service * Prestress * Quality assurance * Semiconductor devices * Semiconductors * Simulation * Stress time * Temperature test * Testing * Thermal stress * Voltage
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN