Loading data. Please wait

EN 60749-24

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)

Số trang:
Ngày phát hành: 2004-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-24
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
Ngày phát hành
2004-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-24 (2004-09), IDT * BS EN 60749-24 (2004-06-24), IDT * NF C96-022-24 (2005-12-01), IDT * IEC 60749-24 (2004-03), IDT * IEC 60749-24 (2005-11), IDT * SN EN 60749-24 (2004), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-24 (2004-11-01), IDT * PN-EN 60749-24 (2005-03-15), IDT * PN-EN 60749-24 (2006-08-24), IDT * SS-EN 60749-24 (2004-06-28), IDT * UNE-EN 60749-24 (2005-03-16), IDT * TS EN 60749-24 (2008-05-22), IDT * STN EN 60749-24 (2004-10-01), IDT * CSN EN 60749-24 (2004-12-01), IDT * DS/EN 60749-24 (2004-06-14), IDT * NEN-EN-IEC 60749-24:2004 en (2004-05-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60749-5 (2003-03)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-5
Ngày phát hành 2003-03-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-33 (2004-04) * IEC 60749-5 (2003-01) * IEC 60749-33 (2004-03)
Thay thế cho
prEN 60749-24 (2003-11)
IEC 60749-24, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-24
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EN 60749-24 (2004-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-24
Ngày phát hành 2004-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-24 (2003-11)
IEC 60749-24, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-24
Ngày phát hành 2003-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-24 (2002-12)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; unbiased HAST
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-24
Ngày phát hành 2002-12-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Bond strength * Climatic tests * Components * Destructive testing * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * Failure analysis * Failure frequency * Failure rates * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Statistics of failure * Testing
Số trang