Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; unbiased HAST

Tìm kiếm nâng cao

prEN 60749-24

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-12-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-24

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; unbiased HAST

Ngày phát hành

2002-12-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

C96-022-24PR, IDT * IEC 47/1673/CDV (2002-12), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-24 (2003-03-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

Thay thế bằng

prEN 60749-24 (2003-11)

Lịch sử ban hành

EN 60749-24 (2004-04) * prEN 60749-24 (2003-11) * prEN 60749-24 (2002-12)

Từ khóa

Bond strength * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Environmental tests * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IEC 60749-24, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-24
Ngày phát hành	2003-11-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance, unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-24
Ngày phát hành	2004-04-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực