IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

prEN 60749-4

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-01-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-4

Tên tiêu chuẩn

IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

Ngày phát hành

2002-01-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

IEC 47/1602/FDIS (2002-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

prEN 60749-4 (2000-07)

Thay thế bằng

EN 60749-4 (2002-08)

Lịch sử ban hành

EN 60749-4 (2002-08) * prEN 60749-4 (2002-01) * prEN 60749-4 (2000-07)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Damp-heat tests * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Stress tests * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Damp heat, highly accelerated stress test (hast)
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-4
Ngày phát hành	2000-07-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-4
Ngày phát hành	2002-08-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-4
Ngày phát hành	2002-01-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực