Loading data. Please wait

prEN 60749-4

Damp heat, highly accelerated stress test (hast)

Số trang:
Ngày phát hành: 2000-07-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-4
Tên tiêu chuẩn
Damp heat, highly accelerated stress test (hast)
Ngày phát hành
2000-07-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
C96-022-4PR, IDT * IEC 47/1532/CDV (2000-07), IDT * IEC 47/1532A/CDV (2000-07), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-4 (2000-11-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
prEN 60749-4 (2002-01)
IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-4
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-4 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-4
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-4 (2002-01)
IEC 60749-4, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-4
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-4 (2000-07)
Damp heat, highly accelerated stress test (hast)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-4
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Accelerated testing * Climate * Climatic tests * Components * Damp-heat tests * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Semiconductor devices * Semiconductors * Stress tests * Testing
Số trang