Loading data. Please wait

prEN 61189-3

IEC 1189-3: Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards)

Số trang:
Ngày phát hành: 1996-10-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 61189-3
Tên tiêu chuẩn
IEC 1189-3: Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards)
Ngày phát hành
1996-10-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
IEC 52/627/FDIS (1996-10), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
EN 61189-3 (1997-04)
Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards) (IEC 61189-3:1997)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 61189-3
Ngày phát hành 1997-04-00
Mục phân loại 31.190. Thành phần lắp ráp điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 61189-3 (2008-01)
Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards) (IEC 61189-3:2007)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 61189-3
Ngày phát hành 2008-01-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 61189-3 (1997-04)
Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards) (IEC 61189-3:1997)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 61189-3
Ngày phát hành 1997-04-00
Mục phân loại 31.190. Thành phần lắp ráp điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 61189-3 (1996-10)
IEC 1189-3: Test methods for electrical materials, interconnection structures and assemblies - Part 3: Test methods for interconnection structures (printed boards)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 61189-3
Ngày phát hành 1996-10-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Electrical components * Electrical engineering * Electronic equipment and components * Interconnection * Interconnection structures * Printed circuits * Testing
Mục phân loại
Số trang