Loading data. Please wait
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques; Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Số trang:
Ngày phát hành: 2001-12-00
IEC 61000-4-20: Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques; Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | |
Số hiệu tiêu chuẩn | CISPR/A/419/FDIS*CISPR 61000-4-20*CISPR-PN 61000-4-20 |
Ngày phát hành | 2002-10-00 |
Mục phân loại | 33.100.01. Ðiện từ có tính tương hợp nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques; Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 61000-4-20*CEI 61000-4-20 |
Ngày phát hành | 2003-01-00 |
Mục phân loại | 33.100.20. Sự miễn nhiễm |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques; Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | |
Số hiệu tiêu chuẩn | CISPR/A/343/CDV*CISPR 61000-4-20*CISPR-PN 61000-4-20 |
Ngày phát hành | 2001-12-00 |
Mục phân loại | 33.100.01. Ðiện từ có tính tương hợp nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
IEC 61000-4-20: Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques; Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | |
Số hiệu tiêu chuẩn | CISPR/A/419/FDIS*CISPR 61000-4-20*CISPR-PN 61000-4-20 |
Ngày phát hành | 2002-10-00 |
Mục phân loại | 33.100.01. Ðiện từ có tính tương hợp nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides | |
Số hiệu tiêu chuẩn | IEC 61000-4-20*CEI 61000-4-20 |
Ngày phát hành | 2010-08-00 |
Mục phân loại | 33.100.01. Ðiện từ có tính tương hợp nói chung 33.100.10. Sự phát xạ |
Trạng thái | Có hiệu lực |