Loading data. Please wait

IEC 60747-9*CEI 60747-9

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)

Số trang: 117
Ngày phát hành: 2007-09-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60747-9*CEI 60747-9
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Ngày phát hành
2007-09-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
BS IEC 60747-9 (2007-11-30), IDT * GB/T 29332 (2012), IDT * NEN-IEC 60747-9:2007 en (2007-10-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 61340-2-1*CEI 61340-2-1 (2002-06)
Electrostatics - Part 2-1: Measurement methods; Ability of materials and products to dissipate static electric charge
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-2-1*CEI 61340-2-1
Ngày phát hành 2002-06-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-2-3*CEI 61340-2-3 (2000-03)
Electrostatics - Part 2-3: Methods of test for determining the resistance and resistivity of solid planar materials used to avoid electrostatic charge accumulation
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-2-3*CEI 61340-2-3
Ngày phát hành 2000-03-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-3-1*CEI 61340-3-1 (2006-12)
Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects - Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-3-1*CEI 61340-3-1
Ngày phát hành 2006-12-00
Mục phân loại 17.220.99. Các tiêu chuẩn khác có liên quan đến điện và từ
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
31.020. Thành phần điện tử nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-3-2*CEI 61340-3-2 (2006-12)
Electrostatics - Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects - Machine model (MM) electrostatic discharge test waveforms
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-3-2*CEI 61340-3-2
Ngày phát hành 2006-12-00
Mục phân loại 17.220.99. Các tiêu chuẩn khác có liên quan đến điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-4-3*CEI 61340-4-3 (2001-08)
Electrostatics - Part 4-3: Standard test methods for specific applications; Footwear
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-4-3*CEI 61340-4-3
Ngày phát hành 2001-08-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
61.060. Giầy
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-4-4 (2005-10)
Electrostatics - Part 4-4: Standard test methods for specific applications - Electrostatic classification of flexible intermediate bulk containers (FIBC)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-4-4
Ngày phát hành 2005-10-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
55.180.99. Các tiêu chuẩn khác có liên quan đến thùng phân phối hàng
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-5-1*CEI 61340-5-1 (2007-08)
Electrostatics - Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena - General requirements
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-5-1*CEI 61340-5-1
Ngày phát hành 2007-08-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
31.020. Thành phần điện tử nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-1 (2006-02) * IEC 60747-2 (2000-03) * IEC 60747-6 (2000-12) * IEC 61340-4-1 (2003-12)
Thay thế cho
IEC 60747-9*CEI 60747-9 (1998-08)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-9*CEI 60747-9
Ngày phát hành 1998-08-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-9 AMD 1*CEI 60747-9 AMD 1 (2001-08)
Semiconductor devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs); Amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-9 AMD 1*CEI 60747-9 AMD 1
Ngày phát hành 2001-08-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-9 Edition 1.1*CEI 60747-9 Edition 1.1 (2001-11)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-9 Edition 1.1*CEI 60747-9 Edition 1.1
Ngày phát hành 2001-11-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47E/333/FDIS (2007-06)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60747-9*CEI 60747-9*IEC 60747-9*CEI 60747-9 * IEC 60747-9 (2007-09) * IEC 47E/333/FDIS (2007-06) * IEC 47E/282/CDV (2005-06) * IEC 60747-9 Edition 1.1 (2001-11) * IEC 60747-9 AMD 1 (2001-08) * IEC 47E/194/FDIS (2001-05) * IEC 60747-9 (1998-08) * IEC 47E/109/FDIS (1998-04) * IEC 47E/43/CDV (1996-04) * IEC/DIS 47(CO)1339 (1992-07)
Từ khóa
Acceptance inspection * Bipolar * Bipolar transistors * Circuits * Components * Connections * Connections for measurement * Definitions * Dimensioning * Discrete devices * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Inspection * Integrated circuits * Limits (mathematics) * Marking * Marks * Measurement * Measuring techniques * Properties * Qualification tests * Ratings * Rectifier diodes * Reference methods * Reliability * Routine check tests * Semiconductor devices * Semiconductors * Signs * Specification (approval) * Symbols * Testing * Transistors * Warning symbols * Lines
Mục phân loại
Số trang
117