Loading data. Please wait

EN 60749-26

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2006)

Số trang:
Ngày phát hành: 2006-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-26
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2006)
Ngày phát hành
2006-08-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022-26*NF EN 60749-26 (2006-12-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-26*NF EN 60749-26
Ngày phát hành 2006-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-26*CEI 60749-26 (2006-07), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-26*CEI 60749-26
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749-26 (2007-01), IDT * BS EN 60749-26 (2006-09-29), IDT * SN EN 60749-26 (2006), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-26 (2007-03-01), IDT * PN-EN 60749-26 (2006-11-28), IDT * PN-EN 60749-26 (2008-01-24), IDT * SS-EN 60749-26 (2006-11-20), IDT * STN EN 60749-26 (2007-05-01), IDT * CSN EN 60749-26 (2007-03-01), IDT * DS/EN 60749-26 (2006-12-21), IDT * NEN-EN-IEC 60749-26:2007 en;fr (2007-11-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
EN 60749-27 (2006-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 60749-27:2006)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-27
Ngày phát hành 2006-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 61340-3-1 (2002-06)
Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects; Human body model (HBM); Component testing (IEC 61340-3-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 61340-3-1
Ngày phát hành 2002-06-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-3-1*CEI 61340-3-1 (2002-03)
Electrostatics - Part 3-1: Methods for simulation of electrostatic effects; Human body model (HBM); Component testing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-3-1*CEI 61340-3-1
Ngày phát hành 2002-03-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
prEN 60749-26 (2006-03)
IEC 60749-26, Ed. 2: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-26
Ngày phát hành 2006-03-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-26 (2014-05)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2013)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-26
Ngày phát hành 2014-05-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-26 (2014-05)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2013)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-26
Ngày phát hành 2014-05-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 60749-26 (2006-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) (IEC 60749-26:2006)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-26
Ngày phát hành 2006-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-26 (2006-03)
IEC 60749-26, Ed. 2: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-26
Ngày phát hành 2006-03-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-26 (2005-01)
IEC 60749-26, Ed. 2: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-26
Ngày phát hành 2005-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-26 (2003-06)
IEC 60749-26, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-26
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-26 (2002-04)
IEC 60749-26, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-26
Ngày phát hành 2002-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Checking equipment * Classification * Classification systems * Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Dimensions * Discharge * Electrical components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Electrostatic * Electrostatic discharges * Electrostatics * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Failure * Flammability * Heat * Human body * Impulse loadability * Integrated circuits * Measuring equipment * Mechanical testing * Models * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Simulation * Temperature * Testing * Testing devices * Visual inspection (testing) * Patterns
Số trang