Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Số trang: 16
Ngày phát hành: 2006-12-01

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-26*NF EN 60749-26

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Ngày phát hành

2006-12-01

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-26:2006,IDT * CEI 60749-26:2006,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

NF C20-790-3-1*NF EN 61340-3-1 (2004-04-01) * IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2006-07) * NF EN 60749-26:2006 * CEI 61340-3-1

Thay thế cho

Thay thế bằng

NF C96-022-26*NF EN 60749-26 (2014-09-20)

Lịch sử ban hành

NF C96-022-26*NF EN 60749-26 (2014-09-20)*NF C96-022-26*NF EN 60749-26

Từ khóa

Classification * Structuring * Semiconductor devices * Waveforms * Human body * Electric discharges

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Electrostatics - Part 3-1 : methods for simulation of electrostatic effects - Human body model (HBM) - Component testing
Số hiệu tiêu chuẩn	NF C20-790-3-1*NF EN 61340-3-1
Ngày phát hành	2004-04-01
Mục phân loại	17.220.99. Các tiêu chuẩn khác có liên quan đến điện và từ 29.020. Kỹ thuật điện nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành	2006-07-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực