Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Số trang: 56
Ngày phát hành: 2014-09-20

Liên hệ

Số hiệu tiêu chuẩn

NF C96-022-26*NF EN 60749-26

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26 : electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)

Ngày phát hành

2014-09-20

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

EN 60749-26:2014,IDT * CEI 60749-26:2013,IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2006-07)

Thay thế cho

NF EN 60749-26:200612 (C96-022-26)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

NF C96-022-26*NF EN 60749-26*NF EN 60749-26:200612 (C96-022-26)

Từ khóa

Classification * Structuring * Semiconductor devices * Waveforms * Human body * Electric discharges

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành	2006-07-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực